該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態的物性與容積狀態的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態下進行。根據物體表面溫度按余弦（或正弦）規律變化時的瞬態實驗模型。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數或導熱系數。儀器于研究薄膜材

產品型號：HCX09A

更新時間：2026-02-10

廠商性質：生產廠家

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熱分析儀器

接觸角表面張力儀高溫比熱容測試儀材料高溫綜合物性測試儀材料相變分析儀影像式燒結點儀高溫物性儀/耐火度測試儀

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該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態的物性與容積狀態的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態下進行。根據物體表面溫度按余弦（或正弦）規律變化時的瞬態實驗模型。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數或導熱系數。儀器于研究薄膜材料熱物性特性。

主要技術參數：

1.導熱系數范圍：0.05～20w/m·k

2.儀器實現數字化測溫，精度優于0.2級。

3.測量結果，準確度 ±3%

4.計量加熱功率可調節±1%。

5.樣尺寸要求：圓柱體￠15--30*5--30mm .

6.溫度和保護氣氛按用戶要求定制。

7.配接計算機實現全自動測試分析。

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